科學(xué)儀器???實驗方案???計量檢測?? 設(shè)備運維
科學(xué)儀器???實驗方案???計量檢測?? 設(shè)備運維
在開發(fā)新材料及薄膜制程上,為了有助于了解材料組成間的相互作用及解決工藝流程的問題,材料組成或薄膜迭層的深度分析是非常重要的。
PHI 4700使用了AES分析技術(shù)為基礎(chǔ),搭配靈敏度半球型能量分析器、10 kV LaB6掃瞄式電子槍、5 kV浮動柱狀式Ar離子槍及高精密度自動樣品座。針對例行性的俄歇縱深分析、微區(qū)域的故障分析,提供了全自動與及高經(jīng)濟效益的解決方法。
PHI 4700是建基于Ulvac-Phi公司的高性能PHI 700Xi俄歇掃描納米探針。它提供了高度自動化,低成本、高效益的方案進行例行俄歇深度分析和微米范圍的故障分析。 PHI 4700可以輕易的配備上互聯(lián)網(wǎng)的設(shè)備,以供遠程操作或監(jiān)控之用。
可選用配備:
儀器性能和維護對于實驗室的運行來說至關(guān)重要,禹重為您提供培訓(xùn)、儀器服務(wù)計劃或按需維修服務(wù),幫助您獲得準確可靠的結(jié)果以及最長的儀器正常運行時間。我們很清楚保持儀器的最優(yōu)性能對提高您的生產(chǎn)力極為重要,因此,我們定能在您需要時為您排憂解難。
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