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表面分析儀器

表面分析技術(shù)利用包括透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、電子探針、X射線光電子能譜、俄歇電子能譜、二次離子質(zhì)譜、場(chǎng)離子顯微鏡與原子探針、掃描隧道電子顯微鏡、原子力顯微鏡、掠入射X射線衍射等分析手段得到物質(zhì)表面成分、表面結(jié)構(gòu)、表面電子態(tài)及表面物理化學(xué)過(guò)程等信息。憑借我們多年的專(zhuān)業(yè)知識(shí)和經(jīng)驗(yàn),我們?yōu)楹娇?、汽?chē)、材料、電子、化學(xué)、生物、地質(zhì)學(xué)、醫(yī)學(xué)、冶金、機(jī)械加工、半導(dǎo)體制造、陶瓷品等行業(yè)提供可靠且靈活的儀器配置方案,可以幫助您從事最高效的研究活動(dòng)。

光學(xué)(數(shù)碼)顯微鏡

常用的顯微鏡有雙目連續(xù)變倍體視顯微鏡、金相顯微鏡、偏光顯微鏡、紫外熒光顯微鏡等。雙目體視顯微鏡在生物、醫(yī)學(xué)領(lǐng)域廣泛用于切片操...

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掃描和透射電鏡

電子顯微鏡是目前材料研究不可或缺的研究手段,包括透射/掃描電子顯微鏡 (TEM/SEM)、聚焦離子束 (FIB) 系統(tǒng),或者...

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電子探針(EPMA)

電子探針(EPMA)可以對(duì)試樣中微小區(qū)域(微米級(jí))的化學(xué)組成進(jìn)行定性或定量分析,可以進(jìn)行點(diǎn)、線掃描(得到層成分分布信息)、面...

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原子力顯微鏡

掃描探針(原子力)顯微鏡不僅可以得到高分辨率的表面成像,而且可以成三維的樣品表面圖像,還可對(duì)材料的各種不同性質(zhì)進(jìn)行研究。SP...

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輝光光譜和質(zhì)譜系統(tǒng)

輝光光譜和質(zhì)譜儀主要應(yīng)用于痕量到常量范圍內(nèi)元素的固體形式的直接分析和深度分布分析。整個(gè)周期表內(nèi)的元素均可檢測(cè)分析,分析對(duì)象可...

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XPS、AES、SIMS

X射線光電子能譜儀(X-ray Photoelectron Spectrograph)用于固體樣品的表面組成分析、化學(xué)狀態(tài)分...

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