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• 獨(dú)有的復(fù)合末級(jí)透鏡可在任何樣品（甚至在傾斜時(shí)貌起伏大）上提供優(yōu)異的分辨率（1 kV 電壓下為 1.0 nm），而無(wú)需進(jìn)行電子束減速。
• 作用極大的背散射探測(cè)始終可保證良好的材料對(duì)比度，即使以低電壓和電子束電流并以任何傾斜角度對(duì)電子束敏感樣品進(jìn)行 TV 速率成像時(shí)也不例外。
• 無(wú)比靈活的探測(cè)器可將各個(gè)探測(cè)器分割提供的信息相結(jié)合，讓用戶能夠獲得至關(guān)重要的對(duì)比或信號(hào)強(qiáng)度。
• 各種各樣的電荷緩解策略，包括倉(cāng)室壓力最高為 500 Pa 的低真空模式，可實(shí)現(xiàn)任何樣品的成像。
• 卓越的分析平臺(tái)提供高電子束電流，而且束斑很小。倉(cāng)室支持三個(gè) EDS 探測(cè)器、共面的 EDS 和 EBSD 以及針對(duì)分析而優(yōu)化的低真空系統(tǒng)。
• 樣品處理和導(dǎo)航極容易，具有多用途樣品支架和 Nav-Cam+。

掃描電鏡廣泛地應(yīng)用于金屬材料（鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工）和非金屬材料（化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維）等檢驗(yàn)和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測(cè)量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測(cè)量。

儀器性能和維護(hù)對(duì)于實(shí)驗(yàn)室的運(yùn)行來(lái)說至關(guān)重要，禹重為您提供培訓(xùn)、儀器服務(wù)計(jì)劃或按需維修服務(wù)，幫助您獲得準(zhǔn)確可靠的結(jié)果以及最長(zhǎng)的儀器正常運(yùn)行時(shí)間。我們很清楚保持儀器的最優(yōu)性能對(duì)提高您的生產(chǎn)力極為重要，因此，我們定能在您需要時(shí)為您排憂解難。

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• FEI 掃描電鏡Apreo中文樣本