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ELEMENT GD PLUS輝光質(zhì)譜儀
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http://www.youzaozao.com/instruments/surface/gd-gdms/657-element-gd.html#sigProId893e8250ba
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Thermo Scientific ELEMENT GD結(jié)合了輝光放電離子源和雙聚焦高分辨率質(zhì)量分析器，可以定性定量分析固體樣品中包括C、N、O在內(nèi)的幾乎所有元素，是直接、快速分析高純樣品雜志含量和鍍層材料元素組成的最佳工具。
了解如何借助 Thermo Scientific? ELEMENT GD? PLUS GD-MS 為固體中高級高純度材料的直接分析定義新的標準。通過最大限度減少校準和樣品制備操作，可提高樣品處理量并達到超低檢測限，從而使 GD-MS 適合整塊金屬分析和深度剖析應用。
陶瓷和其他幾種非導電粉末使用二次電極法進行分析，從而提供相同水平的靈敏度和數(shù)據(jù)質(zhì)量。這使得 GD-MS 成為痕量金屬分析的可靠標準方法。
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存在于固體樣品中的幾乎所有元素都可進行常規(guī)檢測和定量：許多元素的含量低于十億分率 (ppb) 水平。
μs 脈沖式高流速輝光放電池
- 采用脈沖放電模式的高靈敏度離子源
- 廣泛可調(diào)的濺射速率適用于快速進行整體分析和高級深度剖析應用
- 使用二級電極進行氧化鋁粉末分析
雙聚焦質(zhì)譜儀
- 高離子傳輸率和低背景使得信噪比可達亞 ppb 級檢測限
- 高質(zhì)量分辨率可提供最高水平的選擇性和準確度：是無可爭議的分析結(jié)果的先決條件
十二數(shù)量級的自動檢測系統(tǒng)
- 在一次分析中測定基體和超痕量元素，全自動檢測器涵蓋 12 數(shù)量級動態(tài)線性范圍
- 直接定量測定基體元素 IBR（離子束比率）
高效率和簡單易用的軟件包
- 所有參數(shù)均由計算機控制
- 全自動調(diào)諧、分析和數(shù)據(jù)評估
- 自動 LIMS 連接性
- 遠程控制和診斷
- Windows 7
樣品周轉(zhuǎn)時間通常少于 10 分鐘
- 能夠在一次分析中測定基體元素到超痕量元素
- 深度剖析涵蓋數(shù)百微米到一納米的層厚度
- 最小化基體效應，便于進行直接定量
- 航空航天：鎳基高溫合金、復合材料、涂層和擴散層的深度剖析
- 微電子學：銅、鋁粉、濺射靶材
- 可再生能源：硅塊、晶片、太陽能電池
- 醫(yī)療/制藥/食品：不銹鋼、合金
賽默飛世爾科技進入中國已超過30年，在中國的總部設于上海，位于上海的中國創(chuàng)新中心結(jié)合國內(nèi)市場的需求和國外先進技術，研發(fā)適合中國的技術和產(chǎn)品；遍布全國的維修服務網(wǎng)點和特別成立的中國技術培訓團隊，在全國有超過2000 名工程師提供售后服務。
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