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肖特基場發(fā)射電子探針Plus

• JXA-8530F Plus采用浸沒式肖特基場發(fā)射電子槍,優(yōu)化了角電流密度，能利用2 μA以上的大探針電流進行分析，還提高了分析條件下的二次電子像的分辨率。

高級軟件

• 新開發(fā)了多種基于Windows操作系統(tǒng)的軟件，其中包括：能使痕量元素分析更加簡便的“痕量元素分析程序”、能自動制作相圖的“相圖制作器”以及只需簡單輸入就能對表面凹凸不平樣品進行測試的“不平坦樣品的分析程序”等。

靈活的WDS配置

• X射線波譜儀可以選擇140 R或100 R羅蘭圓， 羅蘭圓半徑為140 mm的XCE/L型X射線譜儀檢測范圍寬，波長分辨率高和P/ B比優(yōu)異，100 mm的H型X射線譜儀具有X射線衍射強度高的特點，可以根據(jù)需要選擇使用。

WDS/EDS組合系統(tǒng)

• JXA-8530FPlus標配了JEOL制造的30平方毫米 SD檢測器（以下簡稱SD檢測器），憑借高計數(shù)率的SD檢測器，在與WDS相同的分析條件下可以進行EDS分析，通過簡單的操作就能采集EDS譜圖。

強力、清潔的真空系統(tǒng)

• 高強力真空系統(tǒng)包括兩臺磁懸浮渦輪分子泵， 鏡筒內還采用兩個中間室，通過差動抽氣保持電子槍室的高真空。

軟X射線分析譜儀 (SXES)

• SXES (Soft X-Ray Emission Spectrometer)軟X射線分析譜儀是日本東北大學多元物質科學研究所（寺內正己教授）和日本電子株式會社共同開發(fā)的的高分辨率軟X射線分析譜儀。 新開發(fā)的變柵距衍射光柵(VLS）和高靈敏度的CCD相機組合，同時檢測Li-K系譜線和B-K系譜線，該譜儀實現(xiàn)了極高的能量分辨率，因而能進行化學結合狀態(tài)分析等。

miXcroscopy （關聯(lián)顯微鏡)

• miXcroscopy 光學顯微鏡/掃描電子顯微鏡關聯(lián)系統(tǒng)能批量登錄光學顯微鏡指定的坐標數(shù)據(jù)作為EPMA的分析點，該系統(tǒng)最適合于需要用光學顯微鏡決定分析位置的樣品。

多功能樣品室

• 樣品室的可擴展性強，配備了樣品交換室，可以安裝各種附件。

可以安裝的附件：

• 電子背散射衍射系統(tǒng)（EBSD）
• 陰極熒光檢測系統(tǒng)
• 軟X射線分析譜儀
• 不暴露在大氣環(huán)境下的轉移艙
• 高蝕刻速率的離子源

電子探針可以對試樣中微小區(qū)域（微米級）的化學組成進行定性或定量分析，可以進行點、線掃描（得到層成分分布信息）、面掃描分析（得到成分面分布圖像）。還能全自動進行批量定量分析。由于電子探針技術具有操作迅速簡便、實驗結果的解釋直截了當、分析過程不損壞樣品、測量準確度較高等優(yōu)點，在冶金、地質、電子材料、生物、醫(yī)學、考古以及其它領域中得到日益廣泛地應用，是礦物測試分析和樣品成分分析的重要工具。

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• 日本電子JXA-8530F 場發(fā)射電子探針顯微分析儀(FE-EPMA)英文樣本